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张越
合作成果数:1
赵蔚然
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He, Yumei
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Luo, Hongxin
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张越
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赵蔚然
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X-ray optics development and metrology at Shanghai synchrotron rad..
[252]
2.
High-precision X-ray characterization for basic materials in moder..
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High-precision X-ray characterization for basic materials in moder..
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X-ray optics development and metrology at Shanghai synchrotron rad..
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[1]
Zhao WR,Mo QQ,Zheng L,Li ZL,Zhang XW,&Yu YH.(2024).High-precision X-ray characterization for basic materials in modern high-end integrated circuit.
JOURNAL OF SEMICONDUCTORS
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Xue, Lian,Si, Shangyu,Zhang, Haipeng,et al. X-ray Optics Development And Metrology At Shanghai Synchrotron Radiation Facility[C]. International Conference On Optical And Photonic Engineering (icopen 2023).2024-01-01.
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