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HyDAS: Hybrid Domain Deformed Attention for Selective Hotspot Detection
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2025
作者:
Chen, Yuyang
;
Sun, Qi
;
Zheng, Su
;
Zhang, Xinyun
;
Yu, Bei
Adobe PDF(3014Kb)
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浏览/下载:125/2
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提交时间:2025/03/12
LVM-MO: A Large Vision Model Pioneer on Full-Chip Mask Optimization
会议论文
PROCEEDINGS - DESIGN AUTOMATION CONFERENCE
作者:
Wu, Yiwen
;
Chen, Yuyang
;
Yin, Shuo
;
Wang, Nan
;
Wu, Tao
Adobe PDF(14051Kb)
|
收藏
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浏览/下载:110/5
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提交时间:2025/03/12
From Flatland to Forest: Exploring Pareto-optimal Design through RTL Hierarchy Trees
会议论文
DAC '25: PROCEEDINGS OF THE 62ST ACM/IEEE DESIGN AUTOMATION CONFERENCE
作者:
Donger, Luo
;
Qi, Sun
;
Xingheng, Li
;
Chen, Zhuo
;
Bei, Yu
Adobe PDF(865Kb)
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收藏
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浏览/下载:47/4
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提交时间:2025/03/12
LLM-SRAF: Sub-Resolution Assist Feature Generation Using Large Language Model
会议论文
2025 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE CONFERENCE (DATE), Lyon, France, 31 March-2 April 2025
作者:
Tianyi Li
;
Zhexin Tang
;
Tao Wu
;
Bei Yu
;
Jingyi Yu
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2025/05/26
一种热点检测模型的训练方法及热点检测方法
专利
申请号:CN202411521145.6,申请日期: 2025-02-21,类型:发明申请,状态:实质审查
发明人:
耿浩
;
陈禹阳
Adobe PDF(816Kb)
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浏览/下载:96/1
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提交时间:2025/02/22
Wages: The Worst Transistor Aging Analysis for Large-scale Analog Integrated Circuits via Domain Generalization
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2024, 卷号: 29, 期号: 5
作者:
Chen, Tinghuan
;
Geng, Hao
;
Sun, Qi
;
Wan, Sanping
;
Sun, Yongsheng
Adobe PDF(25Kb)
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浏览/下载:318/33
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提交时间:2024/10/25
Analog circuits
aging
reliability
machine learning
Floorplanning with Edge-Aware Graph Attention Network and Hindsight Experience Replay
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS (TODAES), 2024, 卷号: 29, 期号: 3
作者:
Bo Yang
;
Qi Xu
;
Geng H(耿浩)
;
Song Chen
;
Bei Yu
Adobe PDF(631Kb)
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浏览/下载:363/2
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提交时间:2024/04/05
Edge aware
End to end
Experience replay
Floor-planning
Graph attention network
Netlist
On chips
Reinforcement learnings
Transformer
Wire length
Efficient Bilevel Source Mask Optimization
预印本
2024
作者:
Adobe PDF(2933Kb)
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浏览/下载:231/1
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提交时间:2024/06/17
PoLM: Point Cloud and Large Pre-trained Model Catch Mixed-type Wafer Defect Pattern Recognition
会议论文
2024 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE CONFERENCE & EXHIBITION, DATE, null,Valencia,SPAIN, MAR 25-27, 2024
作者:
Hongquan He
;
Guowen Kuang
;
Qi Sun
;
Geng H(耿浩)
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浏览/下载:276/0
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提交时间:2024/04/05
AD2VNCS: Adversarial Defense and Device Variation-Tolerance in Memristive Crossbar-Based Neuromorphic Computing Systems
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS (TODAES), 2024, 卷号: 29, 期号: 1
作者:
Yongtian Bi
;
Qi Xu
;
Geng H(耿浩)
;
Song Chen
;
Yi Kang
Adobe PDF(1311Kb)
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浏览/下载:159/0
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提交时间:2024/04/05
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