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合作作者[TOP 5]
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耿浩
合作成果数:4
Chen, Guojin
合作成果数:2
Guowen Kuang
合作成果数:2
Qi Sun
合作成果数:2
Xu, Peng
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合作作者
耿浩
合作成果数:4
Chen, Guojin
合作成果数:2
Guowen Kuang
合作成果数:2
Qi Sun
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Xu, Peng
合作成果数:2
Yu, Bei
合作成果数:2
何洪权
硕士生
所在学院:
信息科学与技术学院
职务:
--
研究方向:
备注:
--
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[1]
Chen, Guojin,He, Hongquan,Xu, Peng,et al. Efficient Bilevel Source Mask Optimization[C]. Proceedings - Design Automation Conference.Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.2024-11-07.
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[2]
Hongquan He,Guowen Kuang,Qi Sun,et al. Palm: Point Cloud And Large Pre-trained Model Catch Mixed-type Wafer Defect Pattern Recognition[C]. 2024 Design, Automation & Test In Europe Conference & Exhibition (date).Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.2024-03-27.
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[3]
Chen, Guojin,He, Hongquan,Xu, Peng,et al. Efficient Bilevel Source Mask Optimization. 2024.
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[4]
Hongquan He,Guowen Kuang,Qi Sun,et al. Polm: Point Cloud And Large Pre-trained Model Catch Mixed-type Wafer Defect Pattern Recognition[C]. 2024 Design, Automation & Test In Europe Conference & Exhibition, Date.345 E 47th St, New York, Ny 10017 Usa.Ieee.2024-01-01.
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