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半导体技术(2)
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李静杰
合作成果数:1
卢仕龙
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钱茹
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Cheng, Xinhong
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合作作者
李静杰
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卢仕龙
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1.
Morphology improvement of SiC trench by inductively coupled plasma..
[718]
2.
p-GaN在不同掩膜和刻蚀气体中的ICP刻蚀
[518]
3.
0.13 μm SOI标准单元库抗总剂量辐射的测试验证
[453]
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Morphology improvement of SiC trench by inductively coupled plasma..
[3]
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[1]
钱茹,程新红,郑理,等. p-GaN在不同掩膜和刻蚀气体中的ICP刻蚀[J]. 半导体技术,2018,43(06):449-455.
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[2]
Li, Jingjie.,Cheng, Xinhong.,Wang, Qian.,Zheng, Li.,Shen, Lingyan.,...&Yu, Yuehui.(2017).Morphology improvement of SiC trench by inductively coupled plasma etching using Ni/Al2O3 bilayer mask.
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING
,67,104-109.
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; 被引[WOS]:
8
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[3]
卢仕龙,刘汝萍,林敏,等. 0.13 μm SOI标准单元库抗总剂量辐射的测试验证[J]. 半导体技术,2017,42(06):469-474.
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