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合作作者[TOP 5]

  • 陆卫

    合作成果数：2

  • Ji, Ruo-Nan

    合作成果数：1

  • Wang, Shao-Wei

    合作成果数：1

  • Xie, Mao-Bin

    合作成果数：1

  • Zheng, Wei-Bo

    合作成果数：1

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1. Study on multi-wavelength thin film thickness determination method [261]
2. 多波长薄膜厚度检测方法研究（英文） [55]
3. 光谱技术在镀膜玻璃材料工艺控制中的应用研究 [15]

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1. 多波长薄膜厚度检测方法研究（英文） [1]