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JOURNAL OF INFRARED AND MI...(1)
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JOURNAL OF INFRARED AND MI...(1)
红外与毫米波学报(1)
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2024(3)
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合作作者[TOP 5]
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陆卫
合作成果数:2
Ji, Ruo-Nan
合作成果数:1
Wang, Shao-Wei
合作成果数:1
Xie, Mao-Bin
合作成果数:1
Zheng, Wei-Bo
合作成果数:1
合作作者
陆卫
合作成果数:2
Ji, Ruo-Nan
合作成果数:1
Wang, Shao-Wei
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Xie, Mao-Bin
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Zheng, Wei-Bo
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冀若楠
合作成果数:1
王少伟
合作成果数:1
谢茂彬
合作成果数:1
郑伟波
合作成果数:1
施策
硕士生
所在学院:
物质科学与技术学院
职务:
--
研究方向:
备注:
--
科研成果
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[1]
施策,谢茂彬,郑伟波,等. 多波长薄膜厚度检测方法研究(英文)[J]. 红外与毫米波学报,2024,43(06):813-819.
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[2]
Shi, Ce,Xie, Mao-Bin,Zheng, Wei-Bo,Ji, Ruo-Nan,Wang, Shao-Wei,&Lu, Wei.(2024).Study on multi-wavelength thin film thickness determination method.
JOURNAL OF INFRARED AND MILLIMETER WAVES
,43(6),813-819.
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; 被引[WOS]:
0
; IF:
0.6
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0.5
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[3]
施策. 光谱技术在镀膜玻璃材料工艺控制中的应用研究[D]. 上海. 上海科技大学. 2024-05-23.
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