中文版 | English

个人主页

关键词云

成果统计

合作作者[TOP 5]

  • 窦伟

    合作成果数：3

  • 陈天业

    合作成果数：3

  • Dai, Ning

    合作成果数：2

  • 凌静威

    合作成果数：2

  • 戴宁

    合作成果数：2

访问统计


  总访问量
 272
  访问来源
    内部： 0
    外部： 272
    国内： 242
    国外： 30

  年访问量
 97
  访问来源
    内部： 0
    外部： 97
    国内： 85
    国外： 12

  月访问量
 5
  访问来源
    内部： 0
    外部： 5
    国内： 3
    国外： 2

访问量

访问量

1. Characterization of deep-level defects in highly-doped silicon wit.. [234]
2. Ion implantation process and lattice damage mechanism of boron dop.. [82]
3. 晶体锗掺硼的离子注入工艺与晶格损伤机理研究（英文） [42]
4. 弱电离区场增强的Ge基PIN结构阻挡杂质带红外探测器 [29]

下载量

1. Characterization of deep-level defects in highly-doped silicon wit.. [2]
2. Ion implantation process and lattice damage mechanism of boron dop.. [2]
3. 晶体锗掺硼的离子注入工艺与晶格损伤机理研究（英文） [2]
4. 弱电离区场增强的Ge基PIN结构阻挡杂质带红外探测器 [2]