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合作成果数:1
Feng, Junhong
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Gao, Mingyang
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Qiu, Kun
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Cheng, Xinhong
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Feng, Junhong
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Gao, Mingyang
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1.
Simultaneous improvement of high-frequency and Baliga figures of m..
[1689]
2.
一种硅片缺陷态检测方法及缺陷态检测样品
[32]
3.
Characteristic frequency analysis technique for original defects i..
[27]
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1.
一种硅片缺陷态检测方法及缺陷态检测样品
[4]
2.
Simultaneous improvement of high-frequency and Baliga figures of m..
[2]
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[1]
Wang, Qian.,Hua, Hao.,Zheng, Li.,Feng, Junhong.,Zhang, Cheng.,...&Cheng, Xinhong.(2024).Simultaneous improvement of high-frequency and Baliga figures of merit of 1.7 kV 4H-SiC MOSFET with retrograded JFET doping.
JOURNAL OF PHYSICS D: APPLIED PHYSICS
,57(25).
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; 被引[WOS]:
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; IF:
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[2]
华昊. 一种硅片缺陷态检测方法及缺陷态检测样品. 2024-06-04.
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[3]
Hua H. Characteristic Frequency Analysis Technique For Original Defects Identification In 300 Mm Crystalline Si[C]. European Materials Research Society.2024-01-01.
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