ShanghaiTech University Knowledge Management System
Electrical Characterization of β-Ga2O3 Power Diodes for Cryogenic Temperature Applications | |
2024 | |
会议录名称 | 2024 THE 18TH NATIONAL CONFERENCE ON MOCVD (MOCVD)
![]() |
发表状态 | 已发表 |
会议名称 | 2024 The 18th National Conference on MOCVD (MOCVD) |
文献类型 | 会议论文 |
条目标识符 | https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/449618 |
专题 | 信息科学与技术学院_博士生 信息科学与技术学院_PI研究组_邹新波组 信息科学与技术学院_硕士生 |
通讯作者 | Zou, Xinbo |
作者单位 | 1.ShanghaiTech University, Shanghai 2.Sun Yat-sen University 3.Fudan University 4.Hebei Semiconductor Research Institute |
第一作者单位 | 上海科技大学 |
通讯作者单位 | 上海科技大学 |
第一作者的第一单位 | 上海科技大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Qu, Haolan,Chen, Jiaxiang,Zhu, Yitai,et al. Electrical Characterization of β-Ga2O3 Power Diodes for Cryogenic Temperature Applications[C],2024. |
条目包含的文件 | ||||||
条目无相关文件。 |
修改评论
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。