ShanghaiTech University Knowledge Management System
| Investigation of interface and bulk traps in ZrO2/β-Ga2O3 metal-oxide-semiconductor capacitors | |
| 2024 | |
| 会议录名称 | 2024 THE 18TH NATIONAL CONFERENCE ON MOCVD (MOCVD)
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| 发表状态 | 已发表 |
| 会议名称 | 2024 The 18th National Conference on MOCVD (MOCVD) |
| 文献类型 | 会议论文 |
| 条目标识符 | https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/449617 |
| 专题 | 信息科学与技术学院_博士生 信息科学与技术学院_PI研究组_邹新波组 信息科学与技术学院_硕士生 |
| 共同第一作者 | Chen, Jiaxiang |
| 通讯作者 | Zou, Xinbo |
| 作者单位 | 1.ShanghaiTech University 2.Sun Yat-sen University |
| 第一作者单位 | 上海科技大学 |
| 通讯作者单位 | 上海科技大学 |
| 第一作者的第一单位 | 上海科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Qu, Haolan,Chen, Jiaxiang,Sui, Jin,et al. Investigation of interface and bulk traps in ZrO2/β-Ga2O3 metal-oxide-semiconductor capacitors[C],2024. |
| 条目包含的文件 | ||||||
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