×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
在结果中检索
研究单元&专题
信息科学与技术学院 [4]
作者
哈亚军 [2]
耿浩 [2]
陈健 [1]
王昱棋 [1]
张申 [1]
李怡霏 [1]
更多...
文献类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2024 [1]
2023 [2]
2020 [1]
出处
IEEE TRANS... [2]
ACM TRANSA... [1]
IEEE/ACM P... [1]
语种
英语 [4]
资助项目
AI Chip Ce... [1]
National N... [1]
Research G... [1]
Shanghai P... [1]
资助机构
收录类别
EI [4]
SCI [3]
SCIE [1]
SCOPUS [1]
状态
已发表 [4]
×
知识图谱
KMS
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
Attention-Based EDA Tool Parameter Explorer: From Hybrid Parameters to Multi-QoR metrics
会议论文
IEEE/ACM PROCEEDINGS DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE (DATE), Valencia, Spain, 25-27 March 2024
作者:
Donger Luo
;
Qi Sun
;
Qi Xu
;
Tinghuan Chen
;
Geng H(耿浩)
Adobe PDF(931Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:369/3
|
提交时间:2024/04/06
Electronic design automation
Integrated circuit design
Integrated circuits
Tuning
Circuit designers
Design Quality
Electronic design automation tools
Emerging technologies
Hybrid parameters
Parameters tuning
Quality of results
Tool parameter
Tunable parameter
Very large scale integration designs
Boosting VLSI Design Flow Parameter Tuning with Random Embedding and Multi-objective Trust-region Bayesian Optimization
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2023, 卷号: 28, 期号: 5
作者:
Zheng, Su
;
Geng, Hao
;
Bai, Chen
;
Yu, Bei
;
Wong, Martin D. F.
Adobe PDF(1432Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:252/1
|
提交时间:2023/10/13
Computational complexity
Computer aided design
Integrated circuit design
Multiobjective optimization
Tuning
VLSI circuits
Bayesian optimization
Design flows
Embeddings
Multi objective
Parameters tuning
Physical design
Runtimes
Trust region
Very large scale integration designs
Very large-scale integration design flow
A Reliable and High-Speed 6T Compute-SRAM Design With Dual-Split-VDD Assist and Bitline Leakage Compensation
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2023, 卷号: 31, 期号: 5, 页码: 684-695
作者:
Yuqi Wang
;
Shen Zhang
;
Yifei Li
;
Jian Chen
;
Wenfeng Zhao
Adobe PDF(16375Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:483/1
|
提交时间:2023/03/15
Voltage
Random access memory
Discharges (electric)
Transistors
Throughput
Reliability engineering
Very large scale integration
Compute SRAM (CSRAM)
computing-in-memory (CIM)
configurable SRAM
content-addressable memory (CAM)
logic operation
read disturbance
PLAC: Piecewise Linear Approximation Computation for All Nonlinear Unary Functions
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2020, 卷号: 28, 期号: 9, 页码: 2014-2027
作者:
Hongxi Dong
;
Manzhen Wang
;
Yuanyong Luo
;
Muhan Zheng
;
Mengyu An
Adobe PDF(3809Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:514/0
|
提交时间:2020/11/02
Hardware
Delays
Computer architecture
Very large scale integration
Power demand
Indexes
Sun
Error-flattened
nonlinear unary function
piecewise linear (PWL) approximation
piecewise linear approximation computation (PLAC)
quantizer
segmenter
VLSI architecture
首页
上一页
1
下一页
末页