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信息科学与技术学院 [2]
作者
叶朝锋 [1]
陶钰 [1]
董浩然 [1]
龙偲 [1]
刘韫彤 [1]
文献类型
期刊论文 [2]
发表日期
2025 [1]
2024 [1]
出处
IEEE SENSO... [1]
INTERNATIO... [1]
语种
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无权访问的条目
期刊论文
作者:
Liu YT(刘韫彤)
;
Ye CF(叶朝锋)
Adobe PDF(1593Kb)
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浏览/下载:12/3
|
提交时间:2025/03/27
High resolution magnetic field imaging probe with two rows of TMR sensors for small defects inspection
期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED ELECTROMAGNETICS AND MECHANICS, 2024, 卷号: 74, 期号: 4, 页码: 299-306
作者:
Long, Cai
;
Wang, Yuanyuan
;
Dong, Haoran
;
Tao, Yu
;
Ye, Chaofeng
Adobe PDF(1017Kb)
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浏览/下载:311/3
|
提交时间:2024/05/11
Defects
Eddy current testing
Feature extraction
Printed circuit boards
Probes
Array probe
Defects inspections
Differential measurements
Eddy current testing
Eddy-current testing
High resolution
Images segmentations
Imaging probe
Magnetic field imaging
Tunneling magnetoresistance sensors
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