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Absolute interferometric shift-flip method for measuring X-ray mirrors
期刊论文
APPLIED OPTICS, 2025, 卷号: 64, 期号: 7, 页码: 1591-1597
作者:
Wang, Jiezhuo
;
Zhou, Guang
;
Lei, Weizheng
;
Dong, Xiaohao
;
Wang, Jie
Adobe PDF(2760Kb)
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浏览/下载:34/1
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提交时间:2025/03/18
Benchmarking
Interferometry
Laser mirrors
Strain measurement
X ray apparatus
Absolute measurements
Interferometrics
Least-squares- methods
Reference mirrors
Relative measurement
Shape matrixes
Shift-and
Surface shape
X ray mirrors
X-ray mirror surfaces
A Precise Oxide Film Thickness Measurement Method Based on Swept Frequency and Transmission Cable Impedance Correction
期刊论文
SENSORS, 2025, 卷号: 25, 期号: 2
作者:
Li, Yifan
;
Xiao, Qi
;
Peng, Lisha
;
Huang, Songling
;
Ye, Chaofeng
Adobe PDF(11827Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:77/1
|
提交时间:2025/02/12
Electric frequency measurement
Electric impedance measurement
Mass spectrometry
Micrometers
Phase measurement
Process monitoring
Strain measurement
Thickness gages
Thickness measurement
Velocity measurement
Eddy current testing
Eddy-current testing
Film thickness measurement
Impedance correction
Oxide film thickness
Oxide film thickness measurement
Sweep frequencies
Swept-frequency
Transmission cables
Transmission line modeling
High-accuracy mirror surface measurement using three scanning interferometric displacement sensors
会议论文
PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Nantong, China, October 12, 2024 - October 14, 2024
作者:
Wang, Jiezhuo
;
Zhou, Guang
;
Lei, Weizheng
;
Dong, Xiaohao
;
Wang, Jie
Adobe PDF(448Kb)
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浏览/下载:103/5
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提交时间:2024/12/27
Displacement measurement
Interferometers
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