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文献类型
期刊论文 [2]
发表日期
2025 [1]
2023 [1]
出处
IEEE ELECT... [1]
SOLID-STAT... [1]
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WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
Enhanced linearity of AlGaN/GaN HEMTs via dual-gate configuration for RF amplifier applications
期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2025, 卷号: 227
作者:
Guo, Haowen
;
Ye, Wenbo
;
Zhou, Junmin
;
Gu, Yitian
;
Gao, Han
Adobe PDF(4152Kb)
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浏览/下载:30/1
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提交时间:2025/05/12
AlGaN/GaN HEMT
Dual gate
Output-referred third-order intercept point (OIP3)
RF linearity
Third-order intermodulation (IM3)
RF p-GaN HEMT with 0.9-dB Noise Figure and 12.8-dB Associated Gain for LNA Applications
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2023, 卷号: 44, 期号: 9, 页码: 1412-1415
作者:
Junmin Zhou
;
Haowen Guo
;
Haitao Du
;
Yu Zhang
;
Haolan Qu
Adobe PDF(1317Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:398/2
|
提交时间:2023/07/28
Gallium nitride
III-V semiconductors
Leakage currents
Low noise amplifiers
Noise figure
Threshold voltage
Enhancement-mode
Gain
Gate
Gate-leakage
High electron-mobility transistors
Linearity
Low noiseamplifier
Performances evaluation
Radiofrequencies
RF low noise amplifier
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