×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
在结果中检索
研究单元&专题
信息科学与技术学院 [1]
作者
哈亚军 [1]
文献类型
期刊论文 [1]
发表日期
2024 [1]
出处
IEEE TRANS... [1]
语种
英语 [1]
资助项目
资助机构
收录类别
EI [1]
状态
已发表 [1]
×
知识图谱
KMS
反馈留言
浏览/检索结果:
共1条,第1-1条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
题名升序
题名降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
Modeling and Optimization of XOR Gate Based on Stochastic Thermodynamics
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I: REGULAR PAPERS, 2024, 卷号: 71, 期号: 1, 页码: 348-358
作者:
Peng, Xiaoxuan
;
Ge, Xiaohu
;
Ha, Yajun
Adobe PDF(1654Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:303/1
|
提交时间:2024/04/12
Circuit simulation
CMOS integrated circuits
Computer circuits
Digital communication systems
Digital integrated circuits
Energy utilization
Field effect transistors
Logic circuits
Logic gates
MOS devices
Optimization
Oxide semiconductors
Signal encoding
Single electron transistors
Stochastic models
Stochastic systems
Thermodynamics
Timing circuits
Energy consumption model
Energy consumption optimization
Energy-consumption
Integrated circuit modeling
Parity check
Parity check circuit
Parity check codes
Single-electron transistors
Stochastic thermodynamics
XOR gates
首页
上一页
1
下一页
末页