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High-resolution multi-mode electron and ion imaging spectrometer at SXFEL
期刊论文
MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2024, 卷号: 35, 期号: 5
作者:
Guo, Yuliang
;
Hua, Xiaohong
;
Jiang, Wenbin
;
Zhang, Mingjie
;
Wang, Xincheng
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提交时间：2024/03/08
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