消息
×
loading..
×
验证码:
换一张
忘记密码？
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
在结果中检索
研究单元&专题
信息科学与技术学院 [1]
数学科学研究所 [1]
作者
姜嘉骅 [1]
文献类型
期刊论文 [1]
发表日期
2021 [1]
出处
SIAM JOURN... [1]
语种
英语 [1]
资助项目
资助机构
收录类别
EI [1]
SCIE [1]
状态
×
知识图谱
KMS
反馈留言
浏览/检索结果:
共1条，第1-1条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页：
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式：
请选择
发表日期升序
发表日期降序
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
CONSTRUCT DEEP NEURAL NETWORKS BASED ON DIRECT SAMPLING METHODS FOR SOLVING ELECTRICAL IMPEDANCE TOMOGRAPHY
期刊论文
SIAM JOURNAL ON SCIENTIFIC COMPUTING, 2021, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: B678-B711
作者:
Guo, Ruchi
;
Jiang, Jiahua
Adobe PDF(12371Kb)
|
收藏
|
浏览/下载：1070/221
|
提交时间：2021/08/20
deep learning
inverse problems
direct sampling methods
electrical impedance tomography
reconstruction algorithm
limited boundary data
Convolutional neural networks
Electric impedance
Electric impedance measurement
Electric impedance tomography
Inverse problems
Boundary measurements
Computational costs
Direct sampling method
Electrical impedance tomography
Fully connected neural network
High quality reconstruction
Inhomogeneous inclusions
Numerical experiments
首页
上一页
1
下一页
末页
