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High resolution magnetic field imaging probe with two rows of TMR sensors for small defects inspection
期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED ELECTROMAGNETICS AND MECHANICS, 2024, 卷号: 74, 期号: 4, 页码: 299-306
作者:
Long, Cai
;
Wang, Yuanyuan
;
Dong, Haoran
;
Tao, Yu
;
Ye, Chaofeng
Adobe PDF(1017Kb)
|
收藏
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浏览/下载：314/3
|
提交时间：2024/05/11
Defects
Eddy current testing
Feature extraction
Printed circuit boards
Probes
Array probe
Defects inspections
Differential measurements
Eddy current testing
Eddy-current testing
High resolution
Images segmentations
Imaging probe
Magnetic field imaging
Tunneling magnetoresistance sensors
Resolution Enhanced Array ECT Probe for Small Defects Inspection
期刊论文
SENSORS, 2023, 卷号: 23, 期号: 4
作者:
Long, Cai
;
Zhang, Na
;
Tao, Xinchen
;
Tao, Yu
;
Ye, Chaofeng
Adobe PDF(8922Kb)
|
收藏
|
浏览/下载：1957/804
|
提交时间：2023/03/17
Defects
Discrete wavelet transforms
Eddy current testing
Flexible electronics
Image fusion
Image resolution
Inspection
Printed circuit boards
Array probe
Defects inspections
Eddy current testing
Eddy-current testing
Flexible sensor
Metallic structures
Non destructive testing
Small defect inspection
Spatial resolution
Ultra-high-sensitivity
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