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Influence of Localized Hot Carrier Degradation in DSOI Device Operating in MOSFET and BJT Modes 会议论文
2024 8TH IEEE ELECTRON DEVICES TECHNOLOGY & MANUFACTURING CONFERENCE (EDTM), Bangalore, India, 3-6 March 2024
作者:  Yijun Qian;  Yuan Gao;  Amit Kumar Shukla;  Tao Wu;  Zhiqiang Mu
Adobe PDF(1028Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：340/4  |  提交时间：2024/05/17
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