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A Temperature Compensation Method for Micron Level Measurement of Oxide Film Thickness 会议论文
2024 ACADEMIC CONFERENCE OF CHINA INSTRUMENT AND CONTROL SOCIETY (ACCIS), Chengdu, China, 28-31 July 2024
作者:  Jiarui Feng;  Xiaoguang Li;  Guozheng Zhou;  Yifan Li;  Qi Xiao
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Equivalent impedance analysis and compensation of full-wave bridge rectifier under high-frequency operation with extended impedance method 会议论文
PROCEEDINGS - IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Daegu, Republic of Korea, May 22, 2021 - May 28, 2021
作者:  Yichao Liu;  Junrui Liang
Adobe PDF(1214Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：712/1  |  提交时间：2021/12/03
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