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Composition measurement of fully-strained epitaxial InxGa1-xAsyP1-y/InP layer by temperature dependent X-ray diffraction 期刊论文
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2022, 卷号: 599
作者:  Lin, Si-Wei;  Yan, Jin-Yi;  Zhao, Xu-Yi;  Yu, Wen-Fu;  Gong, Qian
Adobe PDF(1863Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:293/0  |  提交时间:2022/11/08
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