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Ultra-Low Loss and Ultra-Compact Polarization-Insensitive SOI Multimode Waveguide Crossing Based on an Inverse Design Method
期刊论文
PHOTONICS, 2024, 卷号: 11, 期号: 12
作者:
Wang, Lu
;
Zhou, Hongquan
;
Shi, Hao
;
Zhao, Chengqiang
;
Ma, Chuanqi
Adobe PDF(3361Kb)
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浏览/下载:42/2
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提交时间:2025/01/13
polarization-insensitive waveguide crossing
sub-wavelength structure
inverse design for integrated photonics
Efficient Bilevel Source Mask Optimization
会议论文
PROCEEDINGS - DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, San Francisco, CA, United states, June 23, 2024 - June 27, 2024
作者:
Chen, Guojin
;
He, Hongquan
;
Xu, Peng
;
Geng, Hao
;
Yu, Bei
Adobe PDF(2933Kb)
|
收藏
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浏览/下载:182/27
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提交时间:2024/12/27
Advanced technology
Alternating optimizations
Bilevel
Mask optimization
Optimization method
Process window
Resolution enhancement technique
Runtimes
Sequential optimization
Technology nodes
PaLM: Point Cloud and Large Pre-trained Model Catch Mixed-type Wafer Defect Pattern Recognition
会议论文
2024 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE CONFERENCE & EXHIBITION (DATE), Valencia, Spain, 25-27 March 2024
作者:
Hongquan He
;
Guowen Kuang
;
Qi Sun
;
Hao Geng
Adobe PDF(8911Kb)
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收藏
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浏览/下载:280/2
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提交时间:2024/06/17
Noise abatement
Pattern recognition
Defect patterns
Design cycle
Die-on wafers
Failure mechanism
Mixed type
Point set
Point-clouds
Scale-down
Technology nodes
Wafer maps
Efficient Bilevel Source Mask Optimization
预印本
2024
作者:
Chen, Guojin
;
He, Hongquan
;
Xu, Peng
;
Geng, Hao
;
Yu, Bei
Adobe PDF(2933Kb)
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收藏
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浏览/下载:211/1
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提交时间:2024/06/17
PoLM: Point Cloud and Large Pre-trained Model Catch Mixed-type Wafer Defect Pattern Recognition
会议论文
2024 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE CONFERENCE & EXHIBITION, DATE, null,Valencia,SPAIN, MAR 25-27, 2024
作者:
Hongquan He
;
Guowen Kuang
;
Qi Sun
;
Geng H(耿浩)
收藏
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浏览/下载:254/0
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提交时间:2024/04/05
国家重大科研仪器研制项目管理改革经验及展望
期刊论文
中国科学基金, 2023, 卷号: 37, 期号: 04, 页码: 669-674
作者:
郝红全
;
赵英弘
;
杨好好
;
徐丹
;
郑知敏
Adobe PDF(1593Kb)
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收藏
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浏览/下载:196/0
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提交时间:2023/11/24
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