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High-quality TEM specimen preparation for lithium-ion conducting solid electrolytes by low-energy ion milling
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2023, 卷号: 253
作者:
Hu, Xiangchen
;
Lu, Yuan
;
Chen, Yu
Adobe PDF(27578Kb)
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浏览/下载:539/2
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提交时间:2023/09/08
Low -energy ion milling
FIB
Solid electrolyte
Monte -Carlo simulation
TEM specimen
Cepstral scanning transmission electron microscopy imaging of severe lattice distortions
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2021, 卷号: 231
作者:
Shao, Yu-Tsun
;
Yuan, Renliang
;
Hsiao, Haw-Wen
;
Yang, Qun
;
Hu, Yang
Adobe PDF(2993Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:456/149
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提交时间:2021/12/17
Electron scattering
Electrons
Germanium metallography
High resolution transmission electron microscopy
Scanning
Scanning electron microscopy
Si-Ge alloys
Diffuse scattering
Disordered crystals
Lattice distortions
Local fluctuations
Periodic scatterings
Scanning electrons
Scanning transmission electron microscopy
Scattering potentials
Quantitative amplitude-modulation scanning Kelvin probe microscopy via the second eigenmode excitation
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2021, 卷号: 230, 页码: 113399
作者:
Lai, Junqi
;
Wang, Cheng
;
Xing, Zhiwei
;
Lu, Shulong
;
Chen, Qi
Adobe PDF(3830Kb)
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收藏
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浏览/下载:219/1
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提交时间:2021/10/29
Scanning Kelvin probe microscopy
Amplitude-modulation
Cantilever crosstalk
Second eigenmode
Quantitative measurement
Wafer-bonded GaAs
GaN heterojunction
High order phase contrast and source divergence in low energy electron microscopy
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2021, 卷号: 225
作者:
Yu, Lei
;
Wan, Weishi
;
Yu, Ka Man
;
Altman, Michael
;
Tang, Wen-Xin
Adobe PDF(4394Kb)
|
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浏览/下载:262/0
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提交时间:2021/05/28
Low Energy Electron Microscopy
Step Contrast
Fourier optics
Corrigendum to "A simple program for fast tilting electron-beam sensitive crystals to zone axes" [Ultramicroscopy 211 (2020) 112941] (Ultramicroscopy (2020) 211, (S0304399119302700), (10.1016/j.ultramic.2020.112941))
其他
Ultramicroscopy, 2020-11-01, 卷号: 218
作者:
Zhang, Yunhao
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浏览/下载:194/0
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提交时间:2022/12/09
Aberration corrected spin polarized low energy electron microscope
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2020, 卷号: 216
作者:
Yu, Lei
;
Wan, Weishi
;
Koshikawa, Takanori
;
Li, Meng
;
Yang, Xiaodong
Adobe PDF(3291Kb)
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浏览/下载:269/0
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提交时间:2020/11/02
A simple program for fast tilting electron-beam sensitive crystals to zone axes
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2020, 卷号: 211, 页码: 112941
作者:
Zhang, Y.
;
Yan, R.
;
Sun, T.
;
Ma, Y.
Adobe PDF(3352Kb)
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浏览/下载:639/18
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提交时间:2020/04/20
Zone axis determination
Fast tilting
Electron-beam sensitive materials
SAED patterns
Double-tilt holder
Coverage-driven phase transition of copper silicide monolayer on Si (111)
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2019, 卷号: 200, 页码: 39-42
作者:
Zhu, Lin
;
Wei, Zheng
;
Shi, Guodong
;
Shang, Bo
;
Li, Meng
Adobe PDF(928Kb)
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浏览/下载:715/5
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提交时间:2019/06/04
Copper silicide
Low energy electron microscopy (LEEM)
Intensity-voltage (I-V)
Substitution
Interstitial atoms
Scanning tunneling microscopy (STM)
Design of compact ultrafast microscopes for single- and multi-shot imaging with MeV electrons
期刊论文
ULTRAMICROSCOPY, 2018, 卷号: 194, 页码: 143-153
作者:
Wan, Weishi
;
Chen, Fu-Rong
;
Zhu, Yimei
Adobe PDF(2182Kb)
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浏览/下载:483/5
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提交时间:2018/12/01
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