中文版 | English

在结果中检索

KMS

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Low-dose electron microscopy imaging for beam-sensitive metal-organic frameworks 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2024, 卷号: 57, 页码: 1270-1281
作者:  Liang, Yuhang;  Zhou, Yi
Adobe PDF(44525Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：236/3  |  提交时间：2024/11/08
Ptychographic X-ray speckle tracking with multi-layer Laue lens systems 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2020, 卷号: 53, 页码: 927-936
作者:  Morgan, Andrew J.;  Murray, Kevin T.;  Prasciolu, Mauro;  Fleckenstein, Holger;  Yefanov, Oleksandr
Adobe PDF(2362Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：579/179  |  提交时间：2020/08/31
Dispersed SiC nanoparticles in Ni observed by ultra-small-angle X-ray scattering 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2016, 卷号: 49, 期号: 6, 页码: 2155-2160
作者:  Xie, R.;  Ilavsky, J.;  Huang, H. F.;  Zhou, X. L.;  Yang, C.
Adobe PDF(907Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：356/0  |  提交时间：2017/07/04
  • 首页
  • 上一页
  • 1
  • 下一页
  • 末页