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Low-dose electron microscopy imaging for beam-sensitive metal-organic frameworks 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2024, 卷号: 57, 页码: 1270-1281
作者:  Liang, Yuhang;  Zhou, Yi
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Ptychographic X-ray speckle tracking with multi-layer Laue lens systems 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2020, 卷号: 53, 页码: 927-936
作者:  Morgan, Andrew J.;  Murray, Kevin T.;  Prasciolu, Mauro;  Fleckenstein, Holger;  Yefanov, Oleksandr
Adobe PDF(2362Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:579/179  |  提交时间:2020/08/31
Dispersed SiC nanoparticles in Ni observed by ultra-small-angle X-ray scattering 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2016, 卷号: 49, 期号: 6, 页码: 2155-2160
作者:  Xie, R.;  Ilavsky, J.;  Huang, H. F.;  Zhou, X. L.;  Yang, C.
Adobe PDF(907Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:356/0  |  提交时间:2017/07/04
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