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Defect characterization of InAs/InGaAs quantum dot photodetector grown on GaAs-on-V-grooved-Si substrate 会议论文
2019 DEVICE RESEARCH CONFERENCE, DRC 2019, Ann Arbor, MI, USA, 23-26 June 2019
作者:  Huang, Jian;  Wan, Yating;  Jung, Daehwan;  Norman, Justin;  Shang, Chen
Adobe PDF(333Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：289/0  |  提交时间：2020/06/17
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