消息
×
loading..
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
在结果中检索
研究单元&专题
信息科学与技术学院 [1]
作者
陈佰乐 [1]
黄健 [1]
文献类型
会议论文 [1]
发表日期
2019 [1]
出处
2019 DEVIC... [1]
语种
资助项目
资助机构
收录类别
EI [1]
状态
已发表 [1]
×
知识图谱
KMS
反馈留言
浏览/检索结果:
共1条,第1-1条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
发表日期升序
发表日期降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
Defect characterization of InAs/InGaAs quantum dot photodetector grown on GaAs-on-V-grooved-Si substrate
会议论文
2019 DEVICE RESEARCH CONFERENCE, DRC 2019, Ann Arbor, MI, USA, 23-26 June 2019
作者:
Huang, Jian
;
Wan, Yating
;
Jung, Daehwan
;
Norman, Justin
;
Shang, Chen
Adobe PDF(333Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:285/0
|
提交时间:2020/06/17
首页
上一页
1
下一页
末页