×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
反馈留言
个人主页
个人信息
个人简介
科研成果
学位论文(1)
期刊论文(1)
来源
AIP ADVANCES(1)
收录类别
EI(1)
SCI(1)
SCIE(1)
访问统计
来源
AIP ADVANCES(1)
发表日期
2022(2)
成果统计
More»
×
知识图谱
合作作者[TOP 5]
点击查看合作网络
徐科
合作成果数:1
李迪迪
合作成果数:1
Cai, Yutao
合作成果数:1
Chen, Jingjing
合作成果数:1
Su, Xujun
合作成果数:1
合作作者
徐科
合作成果数:1
李迪迪
合作成果数:1
Cai, Yutao
合作成果数:1
Chen, Jingjing
合作成果数:1
Su, Xujun
合作成果数:1
Wang, Jianfeng
合作成果数:1
Wang, Luhua
合作成果数:1
Zeng, Xionghui
合作成果数:1
张佳辉
硕士生
所在学院:
物质科学与技术学院
职务:
--
研究方向:
备注:
--
个人简介
张佳辉,2019年入学上海科技大学硕士研究生
科研成果
2
409
1
0
0
0
Items
Views
Downloads
TC[WOS]
TC[CSCD]
H-index
排序方式:
按发表日期降序
按发表日期升序
按WOS被引频次降序
按期刊影响因子降序
正在努力地加载数据中,请稍候……
[1]
张佳辉. Algan Gan Hemt器件中钝化界面结构及电场的透射电子显微学研究[D]. 上海. 上海科技大学. 2022-05-20.
浏览/下载:
83/1
评论
推荐
收藏
[2]
Zhang, Jiahui.,Su, Xujun.,Cai, Yutao.,Li, Didi.,Wang, Luhua.,...&Xu, Ke.(2022).Atomic-resolved structural and electric field analysis of the passivation interface of MIS-HEMTs.
AIP ADVANCES
,12(4).
浏览/下载:
326/0
; 被引[WOS]:
0
; IF:
1.4
/
1.4
评论
推荐
收藏
每页显示
10
0
条
‹
1
›