×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
反馈留言
个人主页
个人信息
个人简介
科研成果
会议论文(2)
学位论文(1)
来源
NINTH SYMPOSIUM ON NOVEL P...(1)
PROCEEDINGS OF SPIE - THE ...(1)
收录类别
EI(2)
访问统计
来源
NINTH SYMPOSIUM ON NOVEL P...(1)
PROCEEDINGS OF SPIE - THE ...(1)
发表日期
2024(1)
2023(2)
关键词云
More»
成果统计
More»
×
知识图谱
合作作者[TOP 5]
点击查看合作网络
邵建达
合作成果数:1
Chen, Jiaxing
合作成果数:1
Liu, Shijie
合作成果数:1
Ni, Kaizao
合作成果数:1
Yang, Weixiang
合作成果数:1
合作作者
邵建达
合作成果数:1
Chen, Jiaxing
合作成果数:1
Liu, Shijie
合作成果数:1
Ni, Kaizao
合作成果数:1
Yang, Weixiang
合作成果数:1
倪开灶
合作成果数:1
刘世杰
合作成果数:1
杨为香
合作成果数:1
陈佳兴
合作成果数:1
李岚清
硕士生
所在学院:
物质科学与技术学院
职务:
--
研究方向:
备注:
--
科研成果
3
559
1
0
0
0
Items
Views
Downloads
TC[WOS]
TC[CSCD]
H-index
排序方式:
按发表日期降序
按发表日期升序
按WOS被引频次降序
按期刊影响因子降序
正在努力地加载数据中,请稍候……
[1]
李岚清. 基于光热原理的高分辨显微测量技术[D]. 上海. 上海科技大学. 2024-05-22.
浏览/下载:
10/0
评论
推荐
收藏
[2]
Li LQ,Yang WX,Chen JX,et al. Three-dimensional Measurement Of Defects On Optical Surface By Transient Interference Technique[C]. Ninth Symposium On Novel Photoelectronic Detection Technology And Applications.Spie.2023-01-01.
浏览/下载:
323/1
; 被引[WOS]:
0
评论
推荐
收藏
[3]
Yang, Weixiang,Li, Lanqing,Ni, Kaizao,et al. Detection And Simulation Of Defects On Precision Optical Surface[C]. Proceedings Of Spie - The International Society For Optical Engineering.Spie.2023-01-01.
浏览/下载:
226/0
; 被引[WOS]:
0
评论
推荐
收藏
每页显示
10
0
条
‹
1
›