一种超薄、超高Tc、应力可控的氮化铌薄膜的制备方法
申请号CN202410761985.3
2024-08-20
公开(公告)号CN118516650A
公开日期2024-08-20
摘要本发明涉及微纳加工技术领域,特别是一种超薄、超高Tc、应力可控的氮化铌薄膜的制备方法。所述制备方法至少包括:在衬底上采用直流磁控溅射的方式外延生长氮化铌薄膜,其中,所述氮化铌薄膜的制备条件如下:氮气和氩气质量流量比为0%~60%、生长温度为室温~800℃、生长气压为1~10mTorr、生长功率为50~500W、生长时间为10~4300s。本发明提供的制备方法可同时获得超薄、超导转变温度Tc超高、超低应力、性能稳定的NbN薄膜,解决以往技术仅有单个指标满足条件的难题,以适用于高难度器件研制。
当前权利人上海科技大学
专利代理人石应杰 ; 许亦琳
代理机构上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
专利申请人上海科技大学
公开国别中国
公开国别简称CN
IPC 分类号C23C14//35; C23C14//06; C23C14//54
专利有效性审中
专利类型发明申请
专利类型字典1
当前法律状态实质审查
简单同族CN118516650A
扩展同族CN118516650A
INPADOC 同族CN118516650A
文献类型专利
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/411211
专题材料器件中心
物质科学与技术学院_特聘教授组_陆卫组
作者单位
上海科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
宋艳汝,闫晓密,彭鹏飞,等. 一种超薄、超高Tc、应力可控的氮化铌薄膜的制备方法. CN202410761985.3[P]. 2024-08-20.
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