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扁平样品体系的同步辐射层析成像检测技术 | |
其他题名 | Synchrotron radiation laminography for flat sample system |
2024-06-25 | |
发表期刊 | 自然杂志 |
ISSN | 0253-9608 |
卷号 | 46期号:03页码:231-237 |
发表状态 | 已发表 |
DOI | 10.3969/j.issn.0253-9608.2024.03.007 |
摘要 | 利用同步辐射X射线高穿透性、高亮度等特点,结合三维重建方法,可以实现样品的三维无损成像,该技术在生物、材料、化学等领域发挥着重要作用。针对扁平样品体系,计算机断层成像(computed tomography, CT)这种常规的三维成像方法,由于其高角度信息缺失,无法实现兼顾尺寸与分辨率的无损高精度成像。近年来再次发展起来的计算机层析成像(computed laminography, CL)可以满足对扁平样品的高精度三维成像的需求。然而,当前的三维重建方法需要足够多的投影数目才能实现高质量重建。文章在已有的三维重建算法的基础上,发展了一种针对CL的傅里叶迭代重建算法(laminography Fourier iterative algorithm, LFIA),在投影角度有限的情况下,利用投影之间的相关信息恢复缺失信息,从而实现更高的重建分辨率,并通过模拟与实验验证算法的可行性。 |
关键词 | 同步辐射X射线成像 计算机层析成像 傅里叶迭代算法 |
URL | 查看原文 |
收录类别 | 中国科技核心期刊 |
语种 | 中文 |
原始文献类型 | 学术期刊 |
来源库 | CNKI |
中图分类号 | O434.19;TP391.41 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/407323 |
专题 | 大科学中心 大科学中心_PI研究组_江怀东组 物质科学与技术学院_博士生 |
通讯作者 | 姚玉东; 江怀东 |
作者单位 | 1.上海科技大学科学与技术物质学院; 2.上海科技大学大科学中心 |
第一作者单位 | 上海科技大学; 大科学中心 |
通讯作者单位 | 上海科技大学; 大科学中心 |
第一作者的第一单位 | 上海科技大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张迪菲,姚玉东,江怀东. 扁平样品体系的同步辐射层析成像检测技术[J]. 自然杂志,2024,46(03):231-237. |
APA | 张迪菲,姚玉东,&江怀东.(2024).扁平样品体系的同步辐射层析成像检测技术.自然杂志,46(03),231-237. |
MLA | 张迪菲,et al."扁平样品体系的同步辐射层析成像检测技术".自然杂志 46.03(2024):231-237. |
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