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Image-Domain Material Decomposition and Beam Hardening Correction for Photon-Counting CT | |
2023-11 | |
会议录名称 | 2023 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM, MEDICAL IMAGING CONFERENCE AND INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ROOM-TEMPERATURE SEMICONDUCTOR DETECTORS (NSS MIC RTSD)
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ISSN | 1082-3654 |
发表状态 | 已发表 |
DOI | 10.1109/NSSMICRTSD49126.2023.10337830 |
摘要 | Photon Counting Detector (PCD) of a photon counting CT (PCCT) can directly measure each x-ray photon energy, enabling the material decomposition and tissue differentiation. Compared to the detector domain material decomposition, the imaging domain material decomposition is compatible with the traditional CT imaging reconstruction frame work and has much better computing efficiency, while it could amplifier the noise and suffers from beam hardness effects. In this paper, we propose a new algorithm fully utilizing the spectral information of photon counting detectors to effectively resolve beam hardening artifacts. |
关键词 | Particle beams Semiconductor device measurement Microwave integrated circuits Image resolution Semiconductor detectors Computed tomography Energy measurement |
会议地点 | Vancouver, BC, Canada |
会议日期 | 4-11 Nov. 2023 |
URL | 查看原文 |
来源库 | IEEE |
文献类型 | 会议论文 |
条目标识符 | https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/354912 |
专题 | 生物医学工程学院 信息科学与技术学院_硕士生 生物医学工程学院_PI研究组_赖晓春组 |
作者单位 | 1.School of Biomedical Engineering, ShanghaiTech University, Shanghai, China 2.United Imaging HealthCare, Shanghai, China |
第一作者单位 | 生物医学工程学院 |
第一作者的第一单位 | 生物医学工程学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | T. Fan,Z. Zhang,M. Yang,et al. Image-Domain Material Decomposition and Beam Hardening Correction for Photon-Counting CT[C],2023. |
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文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 |
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