Image-Domain Material Decomposition and Beam Hardening Correction for Photon-Counting CT
2023-11
会议录名称2023 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM, MEDICAL IMAGING CONFERENCE AND INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ROOM-TEMPERATURE SEMICONDUCTOR DETECTORS (NSS MIC RTSD)
ISSN1082-3654
发表状态已发表
DOI10.1109/NSSMICRTSD49126.2023.10337830
摘要Photon Counting Detector (PCD) of a photon counting CT (PCCT) can directly measure each x-ray photon energy, enabling the material decomposition and tissue differentiation. Compared to the detector domain material decomposition, the imaging domain material decomposition is compatible with the traditional CT imaging reconstruction frame work and has much better computing efficiency, while it could amplifier the noise and suffers from beam hardness effects. In this paper, we propose a new algorithm fully utilizing the spectral information of photon counting detectors to effectively resolve beam hardening artifacts.
关键词Particle beams Semiconductor device measurement Microwave integrated circuits Image resolution Semiconductor detectors Computed tomography Energy measurement
会议地点Vancouver, BC, Canada
会议日期4-11 Nov. 2023
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来源库IEEE
文献类型会议论文
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/354912
专题生物医学工程学院
信息科学与技术学院_硕士生
生物医学工程学院_PI研究组_赖晓春组
作者单位
1.School of Biomedical Engineering, ShanghaiTech University, Shanghai, China
2.United Imaging HealthCare, Shanghai, China
第一作者单位生物医学工程学院
第一作者的第一单位生物医学工程学院
推荐引用方式
GB/T 7714
T. Fan,Z. Zhang,M. Yang,et al. Image-Domain Material Decomposition and Beam Hardening Correction for Photon-Counting CT[C],2023.
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