均匀分布狭缝阵列编码光谱成像系统的仿真与验证
2021-08-15
发表期刊半导体光电
ISSN1001-5868
卷号42期号:04页码:562-567
发表状态已发表
DOI10.16818/j.issn1001-5868.2021.04.022
摘要

为解决传统色散型高光谱成像仪扫描速度慢和编码孔径光谱成像系统存在部分信息失真或丢失、光谱重构复杂度高等问题,设计了一种基于均匀分布狭缝阵列的光谱成像系统,在编码孔径光谱成像系统的基础上,采用微位移电机控制阵列编码狭缝对成像视场进行微扫描,以实现光谱不混叠成像,在满足一定成像帧频的条件下实现动态场景的无损探测。仿真结果表明:在光谱图像重构质量与单狭缝系统结果一致的前提下,该系统的采集效率提升了17倍;空间结构相似度和光谱保真度分别是50%压缩采样率编码孔径光谱成像系统的1.8倍和1.17倍,在完成仿真的基础上,搭建实验装置进行了可行性验证。

关键词光谱成像 编码孔径 计算光谱 压缩感知 快照
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收录类别北大核心
语种中文
原始文献类型学术期刊
中图分类号TP751
文献类型期刊论文
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/255085
专题信息科学与技术学院
信息科学与技术学院_特聘教授组_王建宇组
信息科学与技术学院_硕士生
作者单位
1.中国科学院上海技术物理研究所空间主动光电技术重点实验室;
2.中国科学院大学;
3.上海科技大学信息科学与技术学院;
4.国科大杭州高等研究院
第一作者单位信息科学与技术学院
推荐引用方式
GB/T 7714
徐艳,李春来,刘世界,等. 均匀分布狭缝阵列编码光谱成像系统的仿真与验证[J]. 半导体光电,2021,42(04):562-567.
APA 徐艳,李春来,刘世界,唐国良,谢佳楠,&王建宇.(2021).均匀分布狭缝阵列编码光谱成像系统的仿真与验证.半导体光电,42(04),562-567.
MLA 徐艳,et al."均匀分布狭缝阵列编码光谱成像系统的仿真与验证".半导体光电 42.04(2021):562-567.
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