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Bright high harmonic generation around 30 nm and 10 nm for seeding full coherent XFEL 会议论文
OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION XI
作者:  Lou, Zhiyuan;  Zheng, Yinghui;  Zhang, Luyao;  Wu, Jiaqi;  Zeng, Zhinan
Adobe PDF(868Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：588/0  |  提交时间：2020/01/09
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