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In-situ quantification of the surface roughness for facile fabrications of atomically smooth thin films
期刊论文
NANO RESEARCH, 2022, 卷号: 15, 期号: 2, 页码: 1654-1659
作者:
Liang,Genhao
;
Cheng,Long
;
Zha,Junkun
;
Cao,Hui
;
Zhang,Jingxian
Adobe PDF(3334Kb)
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浏览/下载：248/2
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提交时间：2021/08/27
reflection high-energy electron diffraction
roughness
thin film growth
high efficiency
in-situ
real time
Design of a novel correlative reflection electron microscope for in-situ real-time chemical analysis*
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2021, 卷号: 30, 期号: 12
作者:
Li, Tian-Long
;
Wei, Zheng
;
Wan, Wei-Shi
Adobe PDF(1954Kb)
|
收藏
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浏览/下载：230/1
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提交时间：2022/01/04
reflection high energy electron diffraction (RHEED)
electron energy loss spectroscopy (EELS)
parallel detection
energy-filtered electron microscopy
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