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PaLM: Point Cloud and Large Pre-trained Model Catch Mixed-type Wafer Defect Pattern Recognition
会议论文
2024 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE CONFERENCE & EXHIBITION (DATE), Valencia, Spain, 25-27 March 2024
作者:
Hongquan He
;
Guowen Kuang
;
Qi Sun
;
Hao Geng
Adobe PDF(8911Kb)
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浏览/下载:317/3
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提交时间:2024/06/17
Noise abatement
Pattern recognition
Defect patterns
Design cycle
Die-on wafers
Failure mechanism
Mixed type
Point set
Point-clouds
Scale-down
Technology nodes
Wafer maps
Wafer-Scale Epitaxial Growth of the Thickness-Controllable Van Der Waals Ferromagnet CrTe2 for Reliable Magnetic Memory Applications
期刊论文
ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS, 2023, 卷号: 33, 期号: 50
作者:
Liu, Xinqi
;
Huang, Puyang
;
Xia, Yunyouyou
;
Gao, Lei
;
Liao, Liyang
Adobe PDF(1145Kb)
|
收藏
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浏览/下载:974/314
|
提交时间:2023/09/22
Alumina
Aluminum oxide
Energy efficiency
Epitaxial growth
Ferromagnetic materials
Ferromagnetism
Magnetization
Sapphire
Structural optimization
Surface morphology
Van der Waals forces
2d ferromagnet
Ferromagnets
Interface engineering
Magnetic memory
Spin orbits
Spin-orbit torque switch
Van der Waal
Van der waal heterostructure
Wafer scale
Wafer-scale epitaxial growth
Patterning of Wafer-Scale MXene Films for High-Performance Image Sensor Arrays
期刊论文
ADVANCED MATERIALS, 2022
作者:
Li, Bo
;
Zhu, Qian-Bing
;
Cui, Cong
;
Liu, Chi
;
Wang, Zuo-Hua
Adobe PDF(3617Kb)
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收藏
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浏览/下载:348/0
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提交时间:2022/04/02
Carbides
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