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会议论文 [2]
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2024 [1]
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PROCEEDING... [1]
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LLM-HD: Layout Language Model for Hotspot Detection with GDS Semantic Encoding
会议论文
PROCEEDINGS - DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, San Francisco, CA, United states, June 23, 2024 - June 27, 2024
作者:
Chen, Yuyang
;
Wu, Yiwen
;
Wang, Jingya
;
Wu, Tao
;
He, Xuming
Adobe PDF(1643Kb)
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收藏
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浏览/下载：278/8
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提交时间：2024/12/27
Benchmarking
Binary images
Image coding
Modeling languages
Natural language processing systems
Problem oriented languages
Complex designs
Detection approach
Down-scaling
Encodings
Hotspot detections
Language model
Market constraints
Pattern-matching
Technology nodes
Time to market
Mixed-Type Wafer Failure Pattern Recognition
会议论文
PROCEEDINGS OF THE ASIA AND SOUTH PACIFIC DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, ASP-DAC, Tokyo, Japan, January 16, 2023 - January 19, 2023
作者:
Geng, Hao
;
Sun, Qi
;
Chen, Tinghuan
;
Xu, Qi
;
Ho, Tsung-Yi
Adobe PDF(2023Kb)
|
收藏
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浏览/下载：291/2
|
提交时间：2023/03/10
Failure (mechanical)
Silicon wafers
Complex circuits
Defect patterns
Failure mechanism
Failure patterns
In-process
Mixed type
Reduce time
Technology nodes
Time to market
Yield rates
Semiconductor device modeling
Art
Federated learning
Statistical distributions
Feature extraction
Foundries
Data models
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