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信息科学与技术学院 [1]
作者
叶朝锋 [1]
陶钰 [1]
张娜 [1]
陶昕辰 [1]
龙偲 [1]
文献类型
期刊论文 [1]
发表日期
2023 [1]
出处
SENSORS [1]
语种
英语 [1]
资助项目
资助机构
收录类别
EI [1]
SCI [1]
SCOPUS [1]
状态
已发表 [1]
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WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
Resolution Enhanced Array ECT Probe for Small Defects Inspection
期刊论文
SENSORS, 2023, 卷号: 23, 期号: 4
作者:
Long, Cai
;
Zhang, Na
;
Tao, Xinchen
;
Tao, Yu
;
Ye, Chaofeng
Adobe PDF(8922Kb)
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收藏
|
浏览/下载：2022/834
|
提交时间：2023/03/17
Defects
Discrete wavelet transforms
Eddy current testing
Flexible electronics
Image fusion
Image resolution
Inspection
Printed circuit boards
Array probe
Defects inspections
Eddy current testing
Eddy-current testing
Flexible sensor
Metallic structures
Non destructive testing
Small defect inspection
Spatial resolution
Ultra-high-sensitivity
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