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Dynamic Reliability Assessment of Vertical GaN Trench MOSFETs With Thick Bottom Dielectric 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2024, 卷号: PP, 期号: 99, 页码: 1-1
作者:  Yu Zhang;  Renqiang Zhu;  Haolan Qu;  Yitian Gu;  Huaxing Jiang
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Design and Implementation of a Fast Set-Up and Low-Noise Bandgap Reference 期刊论文
电子学报, 2021, 卷号: 49, 期号: 11, 页码: 2195-2201
作者:  Wu, Xi-An;  Zhang, Ze-Chen;  Yuan, Sheng-Yue;  Tian, Tong
Adobe PDF(2085Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：270/0  |  提交时间：2022/01/21
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