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Emission and capture characteristics of deep hole trap in n-GaN by optical deep level transient spectroscopy 期刊论文
JOURNAL OF SEMICONDUCTORS, 2024, 卷号: 45, 期号: 3
作者:  Jin Sui;  Jiaxiang Chen;  Haolan Qu;  Yu Zhang;  Xing Lu
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On-site determination of optical constants for thin films 期刊论文
红外与毫米波学报, 2022, 卷号: 41, 期号: 5, 页码: 888-893
作者:  Xie Mao-Bin;  Wu Zhi-Yong;  Cui Heng-Yi;  Zhao Xin-Chao;  Xuan Zhi-Yi
Adobe PDF(748Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：243/0  |  提交时间：2022/11/04
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