消息
×
loading..
×
验证码:
换一张
忘记密码？
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
在结果中检索
研究单元&专题
物质科学与技术学院 [2]
作者
姜程鑫 [1]
纪清清 [1]
鲁跃 [1]
李晨雨 [1]
文献类型
期刊论文 [2]
发表日期
2024 [1]
2023 [1]
出处
ADVANCED F... [1]
CARBON [1]
语种
英语 [2]
资助项目
Key Academ... [1]
National N... [1]
Strategic ... [1]
资助机构
收录类别
EI [2]
SCI [1]
状态
已发表 [2]
×
知识图谱
KMS
反馈留言
浏览/检索结果:
共2条，第1-2条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页：
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式：
请选择
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
作者升序
作者降序
提交时间升序
提交时间降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
Spontaneous Line Defect-Induced Co4Te7 Superlattices on SrTiO3(001) Featuring Flat Bands
期刊论文
ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS, 2024, 卷号: 34, 期号: 29
作者:
Quan, Wenzhi
;
Lu, Yue
;
Wu, Qilong
;
Shang, Chanjuan
Adobe PDF(8780Kb)
|
收藏
|
浏览/下载：290/2
|
提交时间：2024/04/12
Defects
Density functional theory
Electronic properties
Molecular beams
Monolayers
Scanning tunneling microscopy
Strontium titanates
Substrates
Tellurium
Tellurium compounds
Titanium compounds
1-D structures
1d structure/pattern
Defect arrays
Defects induced
Flat band
Line defects
Luttinger liquids
Moire pattern
Molecular-beam epitaxy
Scanning tunneling microscopy/spectroscopy
Revealing the interlayer orientations for bilayer graphene grown on hexagonal boron nitride by c-AFM measurement
期刊论文
CARBON, 2023, 卷号: 213
作者:
Chen, Lingxiu
;
Jiang, Chengxin
Adobe PDF(5828Kb)
|
收藏
|
浏览/下载：270/0
|
提交时间：2023/08/28
Twisted bilayer graphene
Hexagonal boron nitride
c-AFM
Interlayer orientation
Moire pattern
首页
上一页
1
下一页
末页
