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Stress-corrosion behavior of SiCf/SiC under CMAS-wet-oxygen environments 期刊论文
CORROSION SCIENCE, 2024, 卷号: 228
作者:  Guo, Feiyu;  Chen, Xiaowu;  Yang, Jinshan;  Zhang, Xiangyu;  Hu, Jianbao
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Relaxation kinetics of interface states and bulk traps in atomic layer deposited ZrO2/β-Ga2O3 metal-oxide-semiconductor capacitors 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2024, 卷号: 135, 期号: 8
作者:  Chen, Jiaxiang;  Qu, Haolan;  Sui, Jin;  Lu, Xing;  Zou, Xinbo
Adobe PDF(3256Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：396/44  |  提交时间：2024/03/22
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