中文版 | English

在结果中检索

KMS

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Suppressed current collapse and improved threshold voltage stability of AlGaN/GaN HEMT via O2 plasma treatment 期刊论文
MICROELECTRONICS JOURNAL, 2024, 卷号: 148
作者:  Zhu, Yitai;  Zhang, Yu;  Qu, Haolan
Adobe PDF(4805Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：314/3  |  提交时间：2024/06/11
Dynamic Reliability Assessment of Vertical GaN Trench MOSFETs With Thick Bottom Dielectric 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2024, 卷号: PP, 期号: 99, 页码: 1-1
作者:  Yu Zhang;  Renqiang Zhu;  Haolan Qu;  Yitian Gu;  Huaxing Jiang
Adobe PDF(1470Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：290/0  |  提交时间：2024/06/11
Temperature-Dependent Characteristics of HgCdTe Mid-Wave Infrared E-Avalanche Photodiode 期刊论文
IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS, 2022, 卷号: 28, 期号: 2
作者:  Liqi Zhu;  Huijun Guo;  Zhuo Deng;  Liao Yang;  Jian Huang
Adobe PDF(5838Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：312/1  |  提交时间：2021/11/26
  • 首页
  • 上一页
  • 1
  • 下一页
  • 末页