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The design of a near backscattering detection device for surface morphology of spherically bent crystal analyzer
会议论文
PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Changchun, China, July 29, 2022 - July 31, 2022
作者:
Zeng, Xuanqi
;
Zhang, Kaiyu
;
Liu, Xing
;
Liu, Peng
;
Weng, Tsu-Chien
Adobe PDF(1011Kb)
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收藏
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浏览/下载:332/2
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提交时间:2023/03/10
Backscattering
Electron sources
Electrons
Emission spectroscopy
Free electron lasers
Morphology
Spectrometers
Synchrotron radiation
Synchrotrons
X ray absorption spectroscopy
X ray detectors
Bent crystals
Bragg angles
Crystal analyzers
Detection device
Focal properties
Performance
Radii of curvature
Spherically bent crystals
X-ray sources
X-ray spectrometers
Fabrication of bent crystal analyzer for high energy-resolution x-ray spectroscopy
会议论文
PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Shanghai, China, October 28, 2021 - October 31, 2021
作者:
Liu, Xing
;
Zhang, Dawei
;
Zeng, Xuanqi
;
Zhang, Kaiyu
;
Liu, Peng
Adobe PDF(975Kb)
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收藏
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浏览/下载:398/1
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提交时间:2022/03/11
Acetone
Adhesives
X ray spectroscopy
Bent crystals
Crystal analyzers
Electronic.structure
Energy
Environmental science
High-energy resolution
Lattice spacing
Nano-meter-scale
Oxidation state
X-ray spectroscopy
The five-analyzer point-to-point scanning crystal spectrometer at ESRF ID26
期刊论文
JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, 2021, 卷号: 28, 页码: 362-371
作者:
Glatzel, Pieter
;
Harris, Alistair
;
Marion, Philippe
;
Sikora, Marcin
;
Weng, Tsu-Chien
Adobe PDF(1083Kb)
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收藏
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浏览/下载:193/1
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提交时间:2021/04/01
X-ray emission spectrometers
crystal analyzers
Rowland circle
Johann geometry
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