×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
在结果中检索
研究单元&专题
物质科学与技术学院 [1]
作者
薛加民 [1]
王斌斌 [1]
孙新祚 [1]
周琴 [1]
赵爱迪 [1]
韩钰 [1]
更多...
文献类型
期刊论文 [1]
发表日期
2021 [1]
出处
ACS NANO [1]
语种
英语 [1]
资助项目
资助机构
收录类别
EI [1]
SCIE [1]
×
知识图谱
KMS
反馈留言
浏览/检索结果:
共1条,第1-1条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
提交时间升序
提交时间降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
Visualizing Band Profiles of Gate-Tunable Junctions in MoS2/WSe2Heterostructure Transistors
期刊论文
ACS NANO, 2021, 卷号: 15, 期号: 10, 页码: 16314-16321
作者:
Sun, Xinzuo
;
Chen, Yan
;
Li, Zhiwei
;
Han, Yu
;
Zhou, Qin
Adobe PDF(3492Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:394/5
|
提交时间:2021/12/03
Charge transfer
Layered semiconductors
Molybdenum compounds
Optical properties
Scanning
Scanning tunneling microscopy
Selenium compounds
Semiconductor junctions
Spectroscopy
Sulfur compounds
Tungsten compounds
Band profile
Contact modes
Contact
mode scanning tunneling spectroscopy
Electronics devices
Mode scanning
Scanning tunnelling spectroscopy
Tunables
Van der Waal
Van der waal heterostructure
van der Waals heterostructure
electronic device
scanning tunneling spectroscopy
band profiles
contact-mode scanning tunneling spectroscopy
首页
上一页
1
下一页
末页