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The design of a near backscattering detection device for surface morphology of spherically bent crystal analyzer 会议论文
PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Changchun, China, July 29, 2022 - July 31, 2022
作者:  Zeng, Xuanqi;  Zhang, Kaiyu;  Liu, Xing;  Liu, Peng;  Weng, Tsu-Chien
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X-ray focal properties of spherically bent crystals for synchrotron and XFEL spectroscopy 会议论文
PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Kunming, China, December 7, 2021 - December 9, 2021
作者:  Zhang, Kaiyu;  Liu, Xing;  Liu, Peng;  Yang, Xiaowei;  Weng, Tsu-Chien
Adobe PDF(1167Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：294/1  |  提交时间：2022/05/13
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