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	聚焦离子束制样条件对TEM样品形貌的影响期刊论文半导体技术, 2023, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 25-30 作者: 孙紫涵; 李明; 高金德; 吴涛 Adobe PDF(1937Kb) \| 收藏 \| 浏览/下载：706/2 \| 提交时间：2023/05/04 透射电子显微镜(TEM) 制样失效分析聚焦离子束(FIB) 热损伤电子束辅助沉积保护层
	基于透射电子显微镜的沸石分子筛结构研究进展期刊论文高等学校化学学报, 2021, 卷号: 42, 期号: 01, 页码: 201-216 作者: 凌旸; 章冠群; 马延航 Adobe PDF(2492Kb) \| 收藏 \| 浏览/下载：407/1 \| 提交时间：2022/12/14 透射电子显微镜分子筛结构电子衍射高分辨电子显微镜图像

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