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Optimized Cryo-CMOS Technology with V
TH
<0.2V and I
on
>1.2mA/µm for High-Peformance Computing
预印本
2024
作者:
He, Chang
;
Xin, Yue
;
Yang, Longfei
;
Wang, Zewei
;
Tang, Zhidong
收藏
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浏览/下载:92/0
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提交时间:2024/12/17
Investigation of RS Sensitivity to Tilt Angle on 300MM High Current/Ion Implanter
会议论文
2022 IEEE 16TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID-STATE & INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY (ICSICT), Nangjing, China, 25-28 Oct. 2022
作者:
Xiaoxu Kang
;
Zhenghui Chu
;
Jiwei Liu
;
Xiaolan Zhong
;
Min Zhang
Adobe PDF(4055Kb)
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收藏
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浏览/下载:158/0
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提交时间:2024/03/29
Resistance
Integrated circuit technology
Sensitivity
Annealing
Current measurement
Ions
Distance measurement
Characterization of Ferroelectric Al0.7Sc0.3N Thin Film on Pt and Mo Electrodes
期刊论文
MICROMACHINES, 2022, 卷号: 13, 期号: 10
作者:
Nie, Ran
;
Shao, Shuai
;
Luo, Zhifang
;
Kang, Xiaoxu
;
Wu, Tao
Adobe PDF(1091Kb)
|
收藏
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浏览/下载:392/1
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提交时间:2022/11/08
AlScN
ferroelectric
thin film
leakage current
PUND test
Development and Characterization of High Temperature Plasma Nitridation Process for Advanced CMOS Technology Application
会议论文
PROCEEDINGS OF INTERNATIONAL CONFERENCE ON ASIC, Kunming, China, October 26, 2021 - October 29, 2021
作者:
Xiaoxu Kang
;
Xiaolan Zhong
;
Zhangfa Chen
;
Zhengkai Dao
;
Qiang Zhang
Adobe PDF(2959Kb)
|
收藏
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浏览/下载:379/2
|
提交时间:2022/07/01
CMOS integrated circuits
Silica
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