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Detecting Hot Electron-Induced Local Damage Using THz Near-Field Optical Microscopy 期刊论文
ACS PHOTONICS, 2025
作者:  Deng, Weijie;  Wang, Yinan;  Zhu, Xiaoyan;  Xin, Rui;  Li, Tianxin
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2025/04/07
Local Detection of Enhanced Hot Electron Scattering in InSb/CdTe Heterostructure Interface 预印本
2025
作者:  Ma, Xiaoxiao;  Zhi, Zhenghang;  Deng, Weijie;  Li, Tianxin;  Weng, Qianchun
Adobe PDF(531Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：41/1  |  提交时间：2025/03/10
Nanoscale thermal imaging of hot electrons by cryogenic terahertz scanning noise microscopy 期刊论文
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2024, 卷号: 95, 期号: 6
作者:  Weng, Qianchun;  Deng, Weijie;  Komiyama, Susumu;  Sasaki, Toru;  Imada, Hiroshi
Adobe PDF(13054Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：221/2  |  提交时间：2024/07/02
Quasiadiabatic electron transport in room temperature nanoelectronic devices induced by hot-phonon bottleneck 期刊论文
NATURE COMMUNICATIONS, 2021, 卷号: 12, 期号: 1
作者:  Weng, Qianchun;  Yang, Le;  An, Zhenghua;  Chen, Pingping;  Tzalenchu, Alexander
Adobe PDF(1839Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：644/291  |  提交时间：2021/08/27
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