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钱益军 [7]
杨雨梦 [6]
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In situ tailored confining microenvironment for lung cancer spheroids
期刊论文
MATERIALS TODAY BIO, 2025, 卷号: 31
作者:
Dong, Yixiao
;
Qian, Shuyi
;
Wang, Xuechun
;
Zhang, Wang
;
Lu, Weisheng
Adobe PDF(10205Kb)
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浏览/下载:51/3
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提交时间:2025/03/10
Cancer
Bioprinting
Confinement
ECM mechanics
Two-photon lithography
Influence of Localized Hot Carrier Degradation in DSOI Device Operating in MOSFET and BJT Modes
会议论文
2024 8TH IEEE ELECTRON DEVICES TECHNOLOGY & MANUFACTURING CONFERENCE (EDTM), Bangalore, India, 3-6 March 2024
作者:
Yijun Qian
;
Yuan Gao
;
Amit Kumar Shukla
;
Tao Wu
;
Zhiqiang Mu
Adobe PDF(1028Kb)
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浏览/下载:320/4
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提交时间:2024/05/17
Hot carrier degradation
DSOI
MOSFET
BJT
Non-Equilibrium Assembly of Atomically-Precise Copper Nanoclusters
期刊论文
ADVANCED MATERIALS, 2024, 卷号: 36, 期号: 28
作者:
Peng Zhao
;
Linjie Xu
;
Bohan Li
;
Yuanfeng Zhao
;
Yingshuai Zhao
Adobe PDF(1668Kb)
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浏览/下载:398/18
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提交时间:2024/04/03
Ascorbic acid
Copper compounds
Crosslinking
Ligands
Nanoclusters
Optical properties
Self assembly
Atomic precision
Biological functions
Coordinated network
Coordination interactions
Copper nanoclusters
Dissipative self-assembly
Non equilibrium
Polymer topology switch
Reorganisation
Structure control
Thermal conductivity of high-temperature high-pressure synthesized θ-TaN
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2023, 卷号: 122, 期号: 22
作者:
Liu, Yizhe
;
Li, Qinshu
;
Qian, Yijun
;
Yang, Yumeng
;
Wang, Shanmin
Adobe PDF(1546Kb)
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浏览/下载:255/0
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提交时间:2023/06/30
High resolution transmission electron microscopy
Scanning electron microscopy
Silicon carbide
Tantalum compounds
Thermal conductivity
Time domain analysis
First principle calculations
Hexagonal tungsten carbides
High Temperatures-High Pressures
Phase Change
Scanning transmission electron microscopy
Synthesised
Thermal conductors
Theta phase
Ultrahigh-thermal-conductivity
X ray diffraction patterns
基于混合栅极结构器件的性能退化补偿方法
专利
申请号:CN202310159344.6,申请日期: 2023-05-23,类型:发明申请,状态:实质审查
发明人:
钱益军
;
杨雨梦
Unknown(419Kb)
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浏览/下载:417/0
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提交时间:2023/05/23
Compensation of Hot Carrier Degradation Enabled by Forward Back Bias in π-GAA-π MOSFET
期刊论文
IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY, 2023, 卷号: 11, 页码: 319-324
作者:
Yijun Qian
;
Qiang Liu
;
Jialun Yao
;
Xiaowei Wang
;
Amit Kumar Shukla
Adobe PDF(4964Kb)
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浏览/下载:435/2
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提交时间:2023/06/30
High electron mobility transistors
III-V semiconductors
Leakage currents
MOSFET devices
Silicon on insulator technology
Aging compensation
Back bias
Biasing techniques
Forward back biasing technique
Hot carrier degradation
MOS-FET
MOSFETs
Off-state leakage current
Performances evaluation
Silicon-on-insulator MOSFETs
Analysis of Abnormal GIDL Current Degradation Under Hot Carrier Stress in DSOI-MOSFETs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2022, 卷号: 69, 期号: 11
作者:
Qian, Yijun
;
Gao, Yuan
;
Shukla, Amit Kumar
;
Sun, Lu
;
Zou, Xinbo
Adobe PDF(3370Kb)
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浏览/下载:507/1
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提交时间:2022/10/08
Stress
Logic gates
MOSFET
Electron traps
Degradation
Hot carriers
Market research
Gate-induced drain leakage (GIDL) current
hot carrier stress (HCS)
parasitic bipolar transistor (PBT)
Modeling of Hot Carrier Injection on Gate-Induced Drain Leakage in PDSOI nMOSFET
会议论文
2021 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTEGRATED CIRCUITS, TECHNOLOGIES AND APPLICATIONS, ICTA 2021, Zhuhai, China, November 24, 2021 - November 26, 2021
作者:
Qian, Yijun
;
Gao, Yuan
;
Shukla, Amit Kumar
;
Wu, Tao
;
Wei, Xing
Adobe PDF(2430Kb)
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浏览/下载:382/1
|
提交时间:2022/07/01
Drain current
MOSFET devices
Silicon on insulator technology
Threshold voltage
Condition
Gate induced drain leakage currents
Gate induced drain leakages
Hot carrier injection
Injection conditions
Interface traps
nMOSFETs
Silicon on insulator
Stress time
Tunneling
Calenderable supramolecular perfluorogels for facile fabrication of slippery coatings
期刊论文
CHEMICAL ENGINEERING JOURNAL, 2021, 卷号: 417
作者:
Yang, Li
;
Dong, Shihua
Adobe PDF(6703Kb)
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浏览/下载:225/0
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提交时间:2021/06/18
Supramolecular perfluorogels
Slippery coating
Calenderable
Antibacterial
新型SOI MOSFET热载流子效应研究
学位论文
上海: 上海科技大学
作者:
钱益军
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2023/04/24
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