消息
×
loading..
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
统一认证登录
登录
中文版
|
English
上海科技大学知识管理系统
ShanghaiTech University Knowledge Management System
统一认证登录
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
发表日期
关键词
文献类型
DOI
出处
存缴日期
收录类别
出版者
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
知识整合
学习讨论厅
在结果中检索
研究单元&专题
信息科学与技术学院 [4]
作者
骆东迩 [2]
骆东迩 [1]
耿浩 [1]
文献类型
会议论文 [4]
学位论文 [1]
发表日期
2025 [1]
2024 [3]
2022 [1]
出处
DAC ''25: ... [1]
IEEE/ACM P... [1]
PROCEEDING... [1]
PROCEEDING... [1]
语种
英语 [2]
资助项目
Configurab... [1]
资助机构
收录类别
EI [2]
×
知识图谱
KMS
反馈留言
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
只显示已认领条目
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
From Flatland to Forest: Exploring Pareto-optimal Design through RTL Hierarchy Trees
会议论文
DAC '25: PROCEEDINGS OF THE 62ST ACM/IEEE DESIGN AUTOMATION CONFERENCE
作者:
Donger, Luo
;
Qi, Sun
;
Xingheng, Li
;
Chen, Zhuo
;
Bei, Yu
Adobe PDF(865Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:33/4
|
提交时间:2025/03/12
Knowing The Spec to Explore The Design via Transformed Bayesian Optimization
会议论文
PROCEEDINGS - DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, San Francisco, CA, United states, June 23, 2024 - June 27, 2024
作者:
Donger, Luo
;
Qi, Sun
;
Xinheng, Li
;
Chen, Bai
;
Bei, Yu
Adobe PDF(1430Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:139/5
|
提交时间:2024/12/27
Gaussian distribution
Integrated circuit design
Optimal systems
Pareto principle
Printed circuit design
Problem oriented languages
Space applications
System-on-chip
Architecture designs
Bayesian optimization
Chip design
Chip-scale
Design space exploration
Design specification
Exploration methods
Language model
Pareto front
SoC architecture
Is Vanilla Bayesian Optimization Enough for High-Dimensional Architecture Design Optimization?
会议论文
PROCEEDINGS OF THE 43ST IEEE/ACM INTERNATIONAL CONFERENCE ON COMPUTER-AIDED DESIGN
作者:
Yuanhang, Gao
;
Donger, Luo
;
Chen, Bai
;
Bei, Yu
;
Hao, Geng
Adobe PDF(1431Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:16/3
|
提交时间:2025/03/11
Attention-Based EDA Tool Parameter Explorer: From Hybrid Parameters to Multi-QoR metrics
会议论文
IEEE/ACM PROCEEDINGS DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE (DATE), Valencia, Spain, 25-27 March 2024
作者:
Donger Luo
;
Qi Sun
;
Qi Xu
;
Tinghuan Chen
;
Geng H(耿浩)
Adobe PDF(931Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:363/3
|
提交时间:2024/04/06
Electronic design automation
Integrated circuit design
Integrated circuits
Tuning
Circuit designers
Design Quality
Electronic design automation tools
Emerging technologies
Hybrid parameters
Parameters tuning
Quality of results
Tool parameter
Tunable parameter
Very large scale integration designs
无权访问的条目
学位论文
作者:
骆东迩
Microsoft Word(1049Kb)
|
收藏
|
浏览/下载:8/0
|
提交时间:2024/06/25
首页
上一页
1
下一页
末页