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0.13 μm SOI标准单元库抗总剂量辐射的测试验证 期刊论文
半导体技术, 2017, 卷号: 42, 期号: 06, 页码: 469-474
作者:  卢仕龙;  刘汝萍;  林敏;  俞跃辉;  董业民
Adobe PDF(1190Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：443/0  |  提交时间：2022/12/14
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